Axio Imager 2 金相顯微鏡

簡要描述：當(dāng)您進(jìn)行高級材料研究時(shí)，請?jiān)诠鈱W(xué)顯微鏡工作流程中引入易用性。使用 ZEISS Axio Imager 2 金相顯微鏡獲得材料的準(zhǔn)確且可重復(fù)的結(jié)果，讓您受益匪淺。選擇適合您的應(yīng)用的系統(tǒng)。通過顆粒分析、共焦或相關(guān)顯微鏡等專用解決方案擴(kuò)展您的儀器。

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更新時(shí)間：2024-09-23
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可重復(fù)的結(jié)果

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用于材料研究的蔡司 Axio Imager 2

用于自動(dòng)材料分析的開放式顯微鏡系統(tǒng)

當(dāng)您進(jìn)行高級材料研究時(shí)，請?jiān)诠鈱W(xué)顯微鏡工作流程中引入易用性。使用 ZEISS Axio Imager 2 獲得材料的準(zhǔn)確且可重復(fù)的結(jié)果，讓您受益匪淺。選擇適合您的應(yīng)用的系統(tǒng)。通過顆粒分析、共焦或相關(guān)顯微鏡等專用解決方案擴(kuò)展您的儀器。

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模塊化設(shè)計(jì)

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獲得增強(qiáng)的靈活性

無論是在學(xué)術(shù)研究還是工業(yè)研究中，材料顯微鏡都面臨著各種挑戰(zhàn)。借助 Axio Imager 2，您將能夠應(yīng)對并贏得這些挑戰(zhàn)。連接特定于應(yīng)用的組件并執(zhí)行例如顆粒分析。研究非金屬夾雜物 (NMI)、液晶或基于半導(dǎo)體的 MEM。通過共焦或相關(guān)顯微鏡專用解決方案擴(kuò)展您的儀器。

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高光學(xué)性能

實(shí)現(xiàn)出色的對比度和分辨率

使用不同的對比技術(shù)檢查一系列材料，例如金屬、復(fù)合材料或液晶。
使用反射光并在明場、暗場、微分干涉襯度 (DIC)、圓微分干涉襯度 (C-DIC)、偏振或熒光下觀察樣品。
使用透射光并在明場、暗場、微分干涉襯度 (DIC)、偏振或圓偏振下檢查樣品。對比度管理器確保可重復(fù)的照明設(shè)置。

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