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澤攸科技電子顯微鏡

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原位TEM品桿

原位TEM品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對樣品的損傷，同時也能研究材料的低溫結構。

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更新日期：2024-09-23

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TEM原位拉伸與360°水平旋轉樣樣品桿

TEM原位拉伸與360°水平旋轉樣樣品桿 PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結合透射電鏡原位觀察材料結構的變化。

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原位MEMS加熱電學測量系統

原位MEMS加熱電學測量系統透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。

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原位MEMS低溫電學測量系統

PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。

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原位MEMS氣氛加熱測量系統

PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。

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原位STM-TEM力電一體測量系統

原位STM-TEM力電一體測量系統PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量

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